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半导体高温储存试验测试标准

文章出处：责任编辑：发布时间：2020-06-12 10:27:00 点击数：- 【大 中 小】

国际标准分类中，半导体高温储存试验涉及到半导体分立器件。
在中国标准分类中，半导体高温储存试验涉及到半导体分立器件综合、电力半导体器件、部件。
国际电工委员会，关于半导体高温储存试验的标准
IEC 60749-6-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
IEC 60749-6-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
IEC 60749-6 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
IEC 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
韩国标准，关于半导体高温储存试验的标准
KS C IEC 60749-6-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
德国标准化学会，关于半导体高温储存试验的标准
DIN EN 60749-6-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存
法国标准化协会，关于半导体高温储存试验的标准
NF C96-022-6-2002 半导体装置.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存
英国标准学会，关于半导体高温储存试验的标准
BS EN 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.高温下储存
欧洲电工标准化委员会，关于半导体高温储存试验的标准
EN 60749-6-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存部分替代EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001;IEC 60749-6-2002

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