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电子元器件可靠性试验一般流程

文章出处:   责任编辑:瑞凯仪器   发布时间:2020-08-22 14:27:00    点击数:-   【

随着电子技术的发展,电子设备越来越复杂,其可靠性验证问题越来越突出,复杂电子设备的MTBF高达2 000~5 000 h,最高可达到50000h。传统的环境模拟试验已经远远不能满足现代电子设备发展的要求,对高可靠性电子设备如何验证和评价已经成为急待解决的问题,而可靠性加速试验正是解决这一-突出矛盾的根本方法,解决了常规可靠性工程试验周期比较长,消耗比较大的问题。目前,加速可靠性试验技术领域的研究非常活跃,是电子设备可靠性试验领域的重要研究方向。

电子高压加速老化试验机

电子可靠性试验目前应用设备多为PCT高压加速老化试验机和HAST高压加速老化试验机,两者之间的区别是湿度区别,HAST湿度范围是65%~100%R.H(湿度可调),PCT湿度范围是100%R.H(饱和蒸汽),目前国内真正高压加速老化试验机厂家并不是很多,瑞凯仪器是国内比较先进的高加速老化厂家之一,成立早年就已经开始研发生产加速老化设备,目前为此,已为多国内知名电子厂家提供高压加速老化试验机解决方案。

电子设备可靠性试验箱流程:

可靠性加速试验一般流程图

可靠性加速试验要求各专业人员要协同作业。可靠性加速试验是在试验中施加应力,并连续进行检测以找出故障,进行故障定位,并对缺陷进.行分析和采。改进措施,试验过程中设备设计人员、试验人员、故障分析人员和管理人员要联合协同作业,技术人员和管理人员之间必须密切配合,才能使试验高效进行。

在试验过程中,要记录各类数据和信息,并将得到的信息和经验纳人数据库进行管理并共享信息。试验数据信息对开展试验分析、以及同类设备研制可以起到借鉴作用。当再次发生同类故障时,或开展其他设备研制时,可从数据库中获取宝贵的数据。


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