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如何区别快速温度变化试验箱和冷热冲击试验箱
瑞凯仪器研发生产可靠性环境试验箱已有20余年，与客户沟通时发现客户对冷热冲击试验箱和快速温变试验箱的区分比较模糊，客户在评定试验方法采用哪种设备的时候，不知道如何选购，下面就两种设备的区别做下简单介绍供广大用户参考。
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PCT高压加速老化试验箱试验方法及试验标准
PCT高压加速老化试验一般称为压力锅蒸煮试验或是饱和蒸汽试验，最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度（100%R.H.）[饱和水蒸气]及压力环境下测试，测试代测品耐高湿能力，针对印刷线路板（PCB&FPC），用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验..等试验目的，如果待测品是半导体的话，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。
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认识“紫外线老化试验箱”都有哪些参照标准
紫外老化试验箱适用于非金属材料的耐阳光和人工光源的老化试验。源采用8只额定功率为40W的紫外荧光灯作发光源。紫外线荧光灯管，分布在机器的两侧，每侧各4只(有UVA-340和UVB-313光源供用户选择配置)。参照标准GB/T14522-2008《中华人民共和国国家标准--机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料-人工气候加速试验方法》GB/T16585-1996《中华人民共和国国家标准-硫化橡胶人工气候老化(荧光紫外灯)试验方法》及GB/T16422.3-1997《塑料实验室光源暴露试验方法》等相应标准条款设计制造。
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半导体芯片高低温试验箱
半导体芯片行业是目前国内比较新兴的行业，随着芯片行业的要求越来越高，其测试难度也在不断加强，为此，无锡冠亚推出了半导体芯片高低温试验箱，那么，对于半导体芯片高低温试验箱的发展背景大家了解多少呢~
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可程式恒温恒湿试验机的指标设置
经常有些客户问到关于可程式恒温恒湿试验机的指标是如何设置的，对此对可程式恒温恒湿试验机指标的设置提出以下的建议：可程式恒温恒湿试验机温度范围。高温：由于GB/T2423的等级125℃上是155℃，因此高温定在150℃与130℃没有区别。建议标称温度为150℃，温场测试指标在125℃或130℃，温场测试指标在技术协议中体现，样本上可不做说明。
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近日，瑞凯仪器连续接到大型高温老化房的定制项目，四台R-PCK-268800非标大型高温老化房经过设计、组装和调试，达到客户满意的标准。于昨日完成打包工作，今日正式出库。 【更多详情】
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